高壓開(kāi)關(guān)柜即交流金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于各個(gè)變電站，其內(nèi)部裝有電纜接頭或套管、避雷器、電流互感器、開(kāi)關(guān)等多種一次設(shè)備，這些設(shè)備在長(zhǎng)期運(yùn)行中存在電的、熱的、化學(xué)的及異常狀況下形成的絕緣劣化，導(dǎo)致電氣絕緣強(qiáng)度降低，嚴(yán)重時(shí)發(fā)生故障。

開(kāi)關(guān)柜是電力系統(tǒng)的關(guān)鍵設(shè)備之一，在開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行過(guò)程中，觸頭及接線端面氧化、彈簧老化導(dǎo)致接觸面減小和電力負(fù)荷突變?cè)斐傻臎_擊等多種因素均會(huì)引起開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部過(guò)熱。如果開(kāi)關(guān)柜長(zhǎng)期處于過(guò)熱狀態(tài)，會(huì)引起內(nèi)部元器件老化并導(dǎo)致絕緣能力下降，最終形成發(fā)熱故障。除此之外，開(kāi)關(guān)柜通常工作在強(qiáng)電磁的環(huán)境中，開(kāi)關(guān)柜內(nèi)存在的薄弱環(huán)節(jié)極易被放大，導(dǎo)致局部放電甚至是故障電弧。故障電弧會(huì)迅速加熱整個(gè)開(kāi)關(guān)柜，極易導(dǎo)致故障擴(kuò)大化甚至開(kāi)關(guān)柜燒毀，因此定期對(duì)運(yùn)行中的開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行溫度檢測(cè)是一項(xiàng)意義重大的工作。

隨著近年來(lái)我國(guó)發(fā)電量與用電量的不斷增長(zhǎng)，中壓配電開(kāi)關(guān)設(shè)備產(chǎn)量不斷增加，而經(jīng)濟(jì)與社會(huì)的不斷發(fā)展對(duì)于中壓開(kāi)關(guān)設(shè)備運(yùn)行可靠性提出了更高要求。近年來(lái)，開(kāi)關(guān)柜接觸情況惡化導(dǎo)致的事故不斷顯現(xiàn)。在中壓開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行過(guò)程中，接觸電阻對(duì)其溫升及發(fā)熱情況有著決定性的影響。當(dāng)電流流過(guò)接觸處，電流線收縮，就會(huì)產(chǎn)生接觸電阻。在開(kāi)關(guān)柜中，可分合的動(dòng)靜觸頭之間接觸電阻尤為明顯，對(duì)于中壓開(kāi)關(guān)柜主要包括上梅花觸頭、真空觸頭及下梅花觸頭。隨著關(guān)合次數(shù)的上升，觸頭間接觸面粗糙層度上升，接觸電阻隨之上升。在電流作用下，接觸電阻產(chǎn)生熱功率增大，通過(guò)觸頭及導(dǎo)體的熱量傳遞，導(dǎo)致柜內(nèi)母排及絕緣材料溫度上升。長(zhǎng)期發(fā)熱會(huì)顯著影響電力設(shè)備的電氣性能與絕緣性能，造成極大的安全隱患。開(kāi)關(guān)柜溫升受接觸電阻直接影響，且接觸電阻分布情況是判斷開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行可靠與否的重要參考，建立接觸電阻的在線監(jiān)測(cè)方法對(duì)于開(kāi)關(guān)柜的安全運(yùn)行意義重大。

開(kāi)關(guān)柜光纖測(cè)溫系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)

適用于高壓類開(kāi)關(guān)柜、變壓器 、配電柜等設(shè)備的智能化配套；

光纖本質(zhì)安全、抗強(qiáng)電磁干擾、電絕緣性好；

熒光光纖測(cè)溫儀可以1-32通道多路多點(diǎn)光纖測(cè)溫，為標(biāo)準(zhǔn)通用型測(cè)溫儀；

通過(guò)RS485總線方式組網(wǎng)輸出，并用標(biāo)準(zhǔn)配置的計(jì)算機(jī)軟件，實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)在線實(shí)時(shí)溫度監(jiān)測(cè)，也可用配置的顯示模塊現(xiàn)場(chǎng)顯示被測(cè)溫度；